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  • LJ-FT50UV反射膜厚儀

    反射膜厚儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜,測量誤差小于1納米,最快每秒可測100次,重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾能力強(qiáng),在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

    更新時間:2026-03-12
    產(chǎn)品型號:LJ-FT50UV
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